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Art des Inhalts Hochschulschrift
Titel Röntgendiffraktometrische Ermittlung tiefenabhängiger Eigenspannungsverteilungen in Dünnschichtsystemen mit komplexem Aufbau / von Manuela Klaus. [Technische Universität Berlin]
Person(en) Klaus, Manuela (Verfasser)
Verlag Berlin : Univ.-Verl. der TU Berlin
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2009
Umfang/Format VI, 106 S. : Ill., graph. Darst. ; 21 cm
Hochschulschrift Zugl.: Berlin, Techn. Univ., Diss., 2009
ISBN/Einband/Preis 978-3-7983-2145-8 kart.
Sprache(n) Deutsch (ger)
Schlagwörter Schichtverbundwerkstoff ; Dünne Schicht ; Eigenspannung ; Tiefenverteilung ; Spannungsanalyse ; Röntgendiffraktometrie
DDC-Notation 620.11272 [DDC22ger]
Sachgruppe(n) 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
Weiterführende Informationen Inhaltsverzeichnis

Frankfurt Signatur: 2010 A 10036
Bereitstellung in Frankfurt
Leipzig Signatur: 2010 A 22128
Bereitstellung in Leipzig




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