Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: dcs=68*
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/981222668 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Absolute phasenmessende Deflektometrie / M. C. Knauer. Lehrstuhl für Mikrocharakterisierung, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg ; [Institute of Optics, Information and Photonics, Max-Planck-Research-Group, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg] |
| Person(en) | Knauer, Markus Christian (Verfasser) |
| Verlag | Erlangen ; Nürnberg : Lehrstuhl für Mikrocharakterisierung, Univ. |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2006 |
| Umfang/Format | IV, 142 S. : Ill., graph. Darst. ; 21 cm |
| Hochschulschrift | Zugl.: Erlangen, Nürnberg, Univ., Diss., 2006 |
| ISBN/Einband/Preis |
978-3-932392-69-6 kart. : EUR 29.65 3-932392-69-8 kart. : EUR 29.65 |
| Beziehungen | Progress in modern optics ; 13 |
| DDC-Notation | 681.25 [DDC22ger] |
| Sachgruppe(n) | 670 Industrielle und handwerkliche Fertigung |
| Weiterführende Informationen | Inhaltsverzeichnis |
| Frankfurt |
Signatur: 2006 A 80098
Bereitstellung in Frankfurt |
| Leipzig |
Signatur: 2006 A 94198
Bereitstellung in Leipzig |
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