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Bücher
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Titel Logistische Testmodelle mit additiven Nebenbedingungen / Wilhelm F. Kempf ; Bernd Niehusen ; Gerhard Mach
Person(en) Kempf, Wilhelm (Verfasser)
Niehusen, Bernd (Verfasser)
Mach, Gerhard (Verfasser)
Organisation(en) Christian-Albrechts-Universität zu Kiel. Institut für die Pädagogik der Naturwissenschaften (Herausgebendes Organ)
Verlag Kiel : Inst. für d. Pädagogik d. Naturwiss. an d. Christian-Albrechts-Univ.
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 1976
Umfang/Format 139 Bl. : graph. Darst. ; 30 cm
Beziehungen Christian-Albrechts-Universität zu Kiel. Institut für die Pädagogik der Naturwissenschaften: IPN-Arbeitsberichte ; 22
Anmerkungen Literaturverz. Bl. 137 - 139.
Status nach VGG: vergriffen
Schlagwörter Test (Psychologie) ; Rasch-Modell
Sachgruppe(n) 19a Mathematik
Weiterführende Informationen Inhaltsverzeichnis

Frankfurt Signatur: D 76b/4219
Bereitstellung in Frankfurt
Leipzig Signatur: SB 8100-22
Bereitstellung in Leipzig




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