Investigation of a metrological atomic force microscope system with a combined cantilever position, bending and torsion detection system

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Link zu diesem Datensatz	https://d-nb.info/1239818831
Titel	Investigation of a metrological atomic force microscope system with a combined cantilever position, bending and torsion detection system
Person(en)	Wu, Yiting (Verfasser) Wirthmann, Elisa (Verfasser) Klöpzig, Ute (Verfasser) Hausotte, Tino (Verfasser)
Umfang/Format	Online-Ressource (pdf)
Persistent Identifier	URN: urn:nbn:de:101:1-2021082606291718369162 DOI: 10.5194/jsss-10-171-2021
URL	https://jsss.copernicus.org/articles/10/171/2021/jsss-10-171-2021.pdf https://jsss.copernicus.org/articles/10/171/2021/
Zeitliche Einordnung	Erscheinungsdatum: 15.07.2021
DDC-Notation	502.82 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sprache(n)	Englisch (eng)
Beziehungen	Enthalten in: Journal of sensors and sensor systems (Bd. 10, 2021, Nr. 2: 171-177. 7 S.)
Sachgruppe(n)	500 Naturwissenschaften

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