Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: dcs=620.1*
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1218552425 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Contact related failure detection of semiconductor layer stacks using an acoustic emission test method / Marianne Unterreitmeier |
| Person(en) | Unterreitmeier, Marianne (Verfasser) |
| Organisation(en) | FAU University Press ein Imprint der Universität Erlangen-Nürnberg. Universitätsbibliothek (Verlag) |
| Verlag | Erlangen : FAU University Press |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2020 |
| Umfang/Format | xxiv, 234 Seiten : Illustrationen, Diagramme ; 24 cm, 641 g |
| Hochschulschrift | Dissertation, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg, 2019 |
| ISBN/Einband/Preis |
978-3-96147-305-2 Broschur : EUR 51.50 (DE), EUR 53.00 (AT) 3-96147-305-6 |
| EAN | 9783961473052 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | FAU Forschungen / Reihe B / Medizin, Naturwissenschaft, Technik ; Band 33 |
| Schlagwörter | Wafer ; Halbleiterschicht ; Schallemissionsanalyse ; Rissbildung ; Härteeindruck ; Werkstoffschädigung ; Halbleitertechnologie ; Kontaktieren |
| DDC-Notation | 621.381520287 [DDC23ger]; 620.1127 [DDC23ger] |
| Sachgruppe(n) | 621.3 Elektrotechnik, Elektronik ; 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau |
| Weiterführende Informationen | Inhaltsverzeichnis |
| Frankfurt |
Signatur: 2020 A 68916
Bereitstellung in Frankfurt |
| Leipzig |
Signatur: 2020 A 74975
Bereitstellung in Leipzig |
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