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Art des Inhalts Hochschulschrift
Titel Development of a device for the determination of local magnetic properties of thin films on whole wafers : Entwicklung eines Geräts zur Bestimmung lokaler magnetischer Eigenschaften von Dünnschichten auf ganzen Wafern / Eike Christian Fischer
Person(en) Fischer, Eike Christian (Verfasser)
Verlag Hannover : Gottfried Wilhelm Leibniz Universität
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2023
Umfang/Format Online-Ressource
Hochschulschrift Dissertation, Hannover, Gottfried Wilhelm Leibniz Universität, 2023
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2023052502161382962982
DOI: 10.15488/13690
URL https://www.repo.uni-hannover.de/handle/123456789/13800 (Verlag) (kostenfrei zugänglich)
Sprache(n) Englisch (eng)
Schlagwörter Magnetfeld* ; Magnetfeldsensor* ; CMOS* (*maschinell ermittelt)
DDC-Notation 621.313 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sachgruppe(n) 621.3 Elektrotechnik, Elektronik

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