Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1330685490 |
Titel | An analysis of the symmetries in electron microscope images of a sloping dislocation and its application as a method for dislocation characterization |
Person(en) |
Ingram, J. C. (Verfasser) Strutt, P. R. (Verfasser) Tzeng, Wen‐Shian (Verfasser) |
Umfang/Format | Online-Ressource (pdf) |
Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2405250617154.303892289231 DOI: 10.1002/pssa.2210220227 |
URL | https://doi.org/10.1002/pssa.2210220227 |
Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 16.02.2006 |
Sprache(n) | Englisch (eng) |
Beziehungen | Enthalten in: Physica status solidi / A / Applied research (Bd. 22, 2006, Nr. 2: 599-608. 10 S.) |
Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
