Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "MÜLLER" and "Irène"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1224067932 |
| Titel | Combined Spectroscopic Ellipsometry and Ion Beam Surface Analysis for In-Situ Real-Time Characterization of Complex Oxide Film Growth / by A. H. Mueller, Y. Gao, E. A. Irene, O. Auciello, A. R. Krauss, J. A. Schultz |
| Person(en) |
Mueller, A. H. (Verfasser) Gao, Y. (Verfasser) Irene, E. A. (Verfasser) Auciello, O. (Verfasser) Krauss, A. R. (Verfasser) Schultz, J. A. (Verfasser) |
| Organisation(en) | SpringerLink (Online service) (Sonstige) |
| Umfang/Format | Online-Ressource : online resource. |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2020122418372083297599 DOI: 10.1557/PROC-569-15 |
| URL | https://doi.org/10.1557/PROC-569-15 |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 1999 |
| DDC-Notation | 530.4175 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Materials Research Society: MRS online proceedings library (Bd. 569, 1.11.1999, Nr. 1, date:12.1999: 15-20) |
| Sachgruppe(n) | 530 Physik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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