Monitoring Concepts for Degradation Effects in Digital CMOS Circuits

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Link zu diesem Datensatz	https://d-nb.info/1077295421
Art des Inhalts	Hochschulschrift
Titel	Monitoring Concepts for Degradation Effects in Digital CMOS Circuits / Nasim Pour Aryan. Betreuer: Doris Schmitt-Landsiedel. Gutachter: Walter Stechele ; Doris Schmitt-Landsiedel
Person(en)	Pour Aryan, Nasim (Verfasser) Schmitt-Landsiedel, Doris (Akademischer Betreuer) Stechele, Walter (Akademischer Betreuer)
Verlag	München : Universitätsbibliothek der TU München
Zeitliche Einordnung	Erscheinungsdatum: 2015
Umfang/Format	Online-Ressource
Hochschulschrift	München, Technische Universität München, Diss., 2015
Persistent Identifier	URN: urn:nbn:de:bvb:91-diss-20150729-1241463-1-6
URL	http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bvb:91-diss-20150729-1241463-1-6 (Verlag) (kostenfrei zugänglich)
Sprache(n)	Englisch (eng)
Sachgruppe(n)	621.3 Elektrotechnik, Elektronik

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