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Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/1175824984
Art des Inhalts Hochschulschrift
Titel Atomic Force Microscope (AFM) Cantilevers as Encoder for Real-Time Displacement Measurements / Xiaomei Chen ; Betreuer: Meinhard Schilling
Person(en) Chen, Xiaomei (Verfasser)
Schilling, Meinhard (Akademischer Betreuer)
Verlag Braunschweig : Technische Universität Braunschweig
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2011
Umfang/Format Online-Ressource
Hochschulschrift Dissertation, Braunschweig, Technische Universität Braunschweig
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:gbv:084-12011211553
URL https://publikationsserver.tu-braunschweig.de/receive/dbbs_mods_00041992 (Verlag) (kostenfrei zugänglich)
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Berichte aus dem Institut für Elektrische Messtechnik und Grundlagen der Elektrotechnik ; 36
Anmerkungen In: Institut für Elektrische Messtechnik und Grundlagen der Elektrotechnik
Schlagwörter Verschiebung ; Nanometerbereich ; Messung ; Kantilever
DDC-Notation 530.7 [DDC22ger]
Sachgruppe(n) 530 Physik ; 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau

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