Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/973090375 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | A BIST (built-in self-test) strategy for mixed-signal integrated circuits / vorgelegt von Hongzhi, Li |
| Person(en) | Li, Hongzhi (Verfasser) |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2004 |
| Umfang/Format | Online-Ressource, ca. 1,4 MB |
| Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Li, Hongzhi: A BIST (built-in self-test) strategy for mixed-signal integrated circuits |
| Hochschulschrift | Erlangen, Nürnberg, Univ., Diss., 2004 |
| Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:bvb:29-opus-1036 |
| URL |
http://www.opus.ub.uni-erlangen.de/opus/volltexte/2004/103/pdf/Dissertation_li_29102004.pdf (Verlag) (kostenfrei zugänglich) http://www.opus.ub.uni-erlangen.de/opus/volltexte/2004/103/index.html (Verlag) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Schlagwörter |
Mixed-Signal-Schaltung ; Built-in self test ; Online-Publikation Mixed-Signal-Schaltung ; Analog-Digital-Umsetzer ; Digital-Analog-Umsetzer ; Testbarkeit ; Online-Publikation |
| Sachgruppe(n) | 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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