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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1251710654 |
| Titel | Yield Strengths of Biaxially Textured Metallic Substrates (Ni and its Alloys) Determined Using a Simplified Test Method / by Chakrapani V. Varanasi, Leon Chuck, Lyle Brunke, Jack Burke, Andrew D. Chaney, Paul N. Barnes |
| Person(en) |
Varanasi, Chakrapani V. (Verfasser) Chuck, Leon (Verfasser) Brunke, Lyle (Verfasser) Burke, Jack (Verfasser) Chaney, Andrew D. (Verfasser) Barnes, Paul N. (Verfasser) |
| Organisation(en) | SpringerLink (Online service) (Sonstige) |
| Umfang/Format | Online-Ressource : online resource. |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2022021308093319605981 DOI: 10.1007/s11664-007-0215-4 |
| URL | https://doi.org/10.1007/s11664-007-0215-4 |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2007 |
| DDC-Notation | 530.416 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Journal of electronic materials (Bd. 36, 14.9.2007, Nr. 10, date:10.2007: 1265-1269) |
| Sachgruppe(n) | 530 Physik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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