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Titel Yield Strengths of Biaxially Textured Metallic Substrates (Ni and its Alloys) Determined Using a Simplified Test Method / by Chakrapani V. Varanasi, Leon Chuck, Lyle Brunke, Jack Burke, Andrew D. Chaney, Paul N. Barnes
Person(en) Varanasi, Chakrapani V. (Verfasser)
Chuck, Leon (Verfasser)
Brunke, Lyle (Verfasser)
Burke, Jack (Verfasser)
Chaney, Andrew D. (Verfasser)
Barnes, Paul N. (Verfasser)
Organisation(en) SpringerLink (Online service) (Sonstige)
Umfang/Format Online-Ressource : online resource.
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2022021308093319605981
DOI: 10.1007/s11664-007-0215-4
URL https://doi.org/10.1007/s11664-007-0215-4
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2007
DDC-Notation 530.416 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: Journal of electronic materials (Bd. 36, 14.9.2007, Nr. 10, date:10.2007: 1265-1269)
Sachgruppe(n) 530 Physik

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