Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: tit all "Test 1"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1350458104 |
| Art des Inhalts | Norm |
| Titel | DIN EN IEC 63364-1, Halbleiterbauelemente - Halbleiterbauelemente für IoT-Systeme. Teil 1, Prüfverfahren für die Erkennung von Schallschwankungen (IEC 63364-1:2022) = Semiconductor devices - semiconductor devices for IoT system. Part 1, Test method of sound variation detection (IEC 63364-1:2022) / DIN, Deutsches Institut für Normung e.V. ; DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE |
| Organisation(en) | Deutsches Institut für Normung (Herausgebendes Organ) |
| Werk(e) | DIN EN IEC 63364, 1 |
| Ausgabe | Deutsche Fassung EN IEC 63364-1:2023 |
| Verlag | Berlin : DIN Media GmbH |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: Januar 2025 |
| Umfang/Format | 14 Seiten : Illustrationen ; 30 cm |
| ISBN/Einband/Preis | Broschur |
| Sprache(n) | Deutsch (ger) |
| Beziehungen | Deutsche Norm |
| Sachgruppe(n) | 600 Technik |
| Weiterführende Informationen | Inhaltsverzeichnis |
| Frankfurt |
Signatur: 2024 BB 97891
Bereitstellung in Frankfurt |
| Leipzig |
Signatur: 2025 BB 35104
Bereitstellung in Leipzig |

