Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1166508595 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Virtual ESD Test – : An ESD Analysis Methodology at Chip Level / Stephan Drüen |
| Person(en) | Drüen, Stephan (Verfasser) |
| Ausgabe | 1. Auflage |
| Verlag | Aachen : Shaker |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2007 |
| Umfang/Format | Online-Ressource, 154 Seiten : 75 Illustrationen (pdf) |
| Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Drüen, Stephan: Virtual ESD test |
| Hochschulschrift | Dissertation, Technische Universität München, 2007 |
| Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:101:1-2018090905470834067784 |
| ISBN/Einband/Preis | 978-3-8322-6107-8 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Selected Topics of Electronics and Micromechatronics /Ausgewählte Probleme der Elektronik und Mikromechatronik ; 25 |
| Anmerkungen | Lizenzpflichtig |
| Schlagwörter | Integrierte Schaltung ; Elektrostatische Entladung ; Simulation ; Schutz <Elektrotechnik> ; Schaltungsanalyse ; Verifikation |
| DDC-Notation | 621.395 [DDC22ger] |
| Sachgruppe(n) | 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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