Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: dcs=530.4*
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/105588002X |
| Titel | A Practical Guide to Optical Metrology for Thin Films / Michael Quinten |
| Person(en) | Quinten, Michael (Verfasser) |
| Ausgabe | 1., Auflage |
| Verlag | Weinheim : Wiley-VCH |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2013 |
| Umfang/Format | Online-Ressource : 120 schw.-w. Ill., 5 farb. Ill., 21 schw.-w. Tab. |
| Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Druck-Ausgabe: ISBN: 978-3-527-41167-2 |
| Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:101:1-2014081610173 |
| ISBN/Einband/Preis |
978-3-527-66437-5 3-527-66437-8 |
| EAN | 9783527664375 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Anmerkungen | Lizenzpflichtig |
| Schlagwörter | Dünne Schicht ; Schichtdicke ; Optische Messtechnik |
| DDC-Notation | 530.4175 [DDC22ger] |
| Sachgruppe(n) | 530 Physik ; 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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