Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: dcs=621*
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1281640425 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Korrelation von Materialqualität und Ausfallmechanismen leistungselektronischer SiC-Bauelemente / Daniel Baierhofer |
| Person(en) | Baierhofer, Daniel (Verfasser) |
| Verlag | Erlangen : FAU University Press |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2023 |
| Umfang/Format | xviii, 243 Seiten : Illustrationen, Diagramme ; 24 cm |
| Hochschulschrift | Dissertation, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg, 2022 |
| ISBN/Einband/Preis |
978-3-96147-619-0 Broschur : EUR 35.50 (DE), EUR 36.50 (AT) 3-96147-619-5 |
| Sprache(n) | Deutsch (ger) |
| Beziehungen | FAU-Studien aus der Elektrotechnik ; Band 18 |
| Schlagwörter | MOS-FET ; Siliciumcarbid ; Kristallzüchtung ; Gitterbaufehler ; Ausfallwahrscheinlichkeit |
| DDC-Notation | 621.3815284 [DDC23ger] |
| Sachgruppe(n) | 621.3 Elektrotechnik, Elektronik ; 540 Chemie |
| Weiterführende Informationen | Inhaltsverzeichnis |
| Frankfurt |
Signatur: 2024 A 12251
Bereitstellung in Frankfurt |
| Leipzig |
Signatur: 2023 A 11973
Bereitstellung in Leipzig |
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