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Art des Inhalts Hochschulschrift
Titel Phasenmessende Deflektometrie : ein Verfahren zur hochgenauen Vermessung spiegelnder Oberflächen / Ch. Horneber. Lehrstuhl für Mikrocharakterisierung, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg ; [Institute of Optics, Information and Photonics, Max Planck Research Group, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg]
Person(en) Horneber, Christoph (Verfasser)
Verlag Erlangen ; Nürnberg : Lehrstuhl für Mikrocharakterisierung, Univ.
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2006
Umfang/Format IV, 112 S. : Ill., graph. Darst. ; 21 cm
ISBN/Einband/Preis 978-3-932392-64-1 kart.
3-932392-64-7 kart.
Beziehungen Progress in modern optics ; 8
DDC-Notation 681.25 [DDC22ger]
Sachgruppe(n) 670 Industrielle und handwerkliche Fertigung
Weiterführende Informationen Inhaltsverzeichnis

Frankfurt Signatur: 2006 A 44660
Bereitstellung in Frankfurt
Leipzig Signatur: 2006 A 57566
Bereitstellung in Leipzig




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