Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: dcs=62*
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/962882488 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Selbsttest und Fehlertoleranz mit zugelassener milder Degradation in integrierten CMOS-Sensorsystemen / von Dirk Weiler |
| Person(en) | Weiler, Dirk (Verfasser) |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2001 |
| Umfang/Format | XVI, 204 Bl. : Ill., graph. Darst. ; 30 cm |
| Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Online-Ausgabe: Weiler, Dirk: Selbsttest und Fehlertoleranz mit zugelassener milder Degradation in integrierten CMOS-Sensorsystemen |
| Hochschulschrift | Duisburg, Univ., Diss., 2001 (Nicht für den Austausch) |
| Sprache(n) | Deutsch (ger) |
| Schlagwörter | Integrierter Sensor ; CMOS-Schaltung ; Selbsttest ; Korrektur ; Fehlertoleranz ; Degradation <Technik> |
| DDC-Notation | 621.381520287 [DDC22ger] |
| Sachgruppe(n) | 37 Elektrotechnik |
| Weiterführende Informationen | Inhaltsverzeichnis |
| Frankfurt |
Signatur: H 2001 B 5571 Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.] Bereitstellung in Frankfurt |
| Leipzig |
Signatur: H 2001 B 5571 Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.] Bereitstellung in Leipzig |
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