Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "Machine Learning"
|
|
|
| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1346284261 |
| Titel | X-Detect: explainable adversarial patch detection for object detectors in retail / by Omer Hofman, Amit Giloni, Yarin Hayun, Ikuya Morikawa, Toshiya Shimizu, Yuval Elovici, Asaf Shabtai |
| Person(en) |
Hofman, Omer (Verfasser) Giloni, Amit (Verfasser) Hayun, Yarin (Verfasser) Morikawa, Ikuya (Verfasser) Shimizu, Toshiya (Verfasser) Elovici, Yuval (Verfasser) Shabtai, Asaf (Verfasser) |
| Organisation(en) | SpringerLink (Online service) (Sonstige) |
| Umfang/Format | 1 Online-Ressource. |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2410272129243.093415452555 DOI: 10.1007/s10994-024-06548-5 |
| URL | https://doi.org/10.1007/s10994-024-06548-5 |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2024 |
| DDC-Notation | 006.37 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Machine learning (Bd. 113, 19.6.2024, Nr. 9, date:9.2024: 6273-6292) |
| Sachgruppe(n) | 004 Informatik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |

