Modern methods of specimen preparation for TEM including focused ion beam (FIB) : proc. 1st Summer School on Advanced Electron Microscopy, 30.06. - 5.07.2003, Kraków, PL

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Link zu diesem Datensatz	https://d-nb.info/969713207
Art des Inhalts	Konferenzschrift
Titel	Modern methods of specimen preparation for TEM including focused ion beam (FIB) : proc. 1st Summer School on Advanced Electron Microscopy, 30.06. - 5.07.2003, Kraków, PL / Heinz-Josef Penkalla
Person(en)	Penkalla, Heinz-Josef (Mitwirkender)
Organisation(en)	Summer School on Advanced Electron Microscopy (1 : 2003 : Krakau) (Herausgebendes Organ)
Verlag	[Jülich] : [Forschungszentrum, Zentralbibliothek]
Zeitliche Einordnung	Erscheinungsdatum: 2003
Umfang/Format	Online-Ressource
Persistent Identifier	URN: urn:nbn:de:0001-00099 Handle: 2128/534
URL	http://www.fz-juelich.de/iwv/iwv2/TEM-Video (kostenfrei zugänglich)
Sprache(n)	Englisch (eng)
Sachgruppe(n)	530 Physik

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