Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

Neuigkeiten Donnerstag, 11. September 2025: Die Deutsche Nationalbibliothek öffnet wegen eines Beschäftigtentreffens an beiden Standorten erst um 15 Uhr. // Thursday, 11 September 2025: The German National Library will not open until 15:00 due to a staff meeting at both locations.
 
 

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Art des Inhalts Hochschulschrift
Titel Temperature scaling of leakage current in irradiated silicon sensors / Felix Wizemann ; Gutachter: Johannes Albrecht ; Betreuer: Kevin Kröninger
Person(en) Wizemann, Felix (Verfasser)
Kröninger, Kevin (Akademischer Betreuer)
Albrecht, Johannes (Gutachter)
Verlag Dortmund : Universitätsbibliothek Dortmund
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2019
Umfang/Format Online-Ressource
Hochschulschrift Dissertation, Dortmund, Technische Universität, 2019
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2020022102430646140034
Handle: 2003/38572
URL http://hdl.handle.net/2003/38572 (Verlag) (kostenfrei zugänglich)
Sprache(n) Englisch (eng)
Schlagwörter Siliciumsensor ; ATLAS <Teilchendetektor> ; HL-LHC ; CERN ; Elementarteilchenphysik
CERN* ; Detectors* ; Silicon* ; Temperature* (*maschinell ermittelt)
DDC-Notation 539.776 [DDC23ger]
Sachgruppe(n) 530 Physik

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