Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: tit all "Pattern Recognition"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/115646109X |
| Titel | Acceleration of RAM-Tests with Associative Pattern Recognition Methods / Djamshid Tavangarian, Christian Elm |
| Person(en) |
Tavangarian, Djamshid (Verfasser) Elm, Christian (Verfasser) |
| Verlag | Hagen : FernUniversität in Hagen |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2018 |
| Umfang/Format | Online-Ressource |
| Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Tavangarian, Djamshid: Acceleration of RAM-tests with associative pattern recognition methods |
| Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:hbz:708-dh6863 |
| URL | https://ub-deposit.fernuni-hagen.de/receive/mir_mods_00001167 (Verlag) (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Informatik-Berichte ; 112.1991 |
| DDC-Notation | 006.32 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |

