Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/985243384 |
Titel | Static detection of software errors : precise and scalable algorithms for automatic detection of software errors / Yichen Xie |
Person(en) | Xie, Yichen (Verfasser) |
Verlag | Saarbrücken : VDM Verlag Dr. Müller |
Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2007 |
Umfang/Format | XVI, 129 S. ; 24 cm |
Hochschulschrift | Zugl.: Stanford, Univ., Diss., 2006 |
ISBN/Einband/Preis |
978-3-8364-2172-0 kart. : EUR 59.00 (freier Pr.), sfr 98.00 (freier Pr.) 3-8364-2172-0 kart. : EUR 59.00 (freier Pr.), sfr 98.00 (freier Pr.) |
EAN | 9783836421720 |
Sprache(n) | Englisch (eng) |
Anmerkungen | Hergestellt on demand |
Schlagwörter | Statische Analyse ; Bug <Informatik> ; Softwaretest |
DDC-Notation | 005.14 [DDC22ger] |
Sachgruppe(n) | 004 Informatik |
Weiterführende Informationen |
Inhaltsverzeichnis Inhaltstext |
Frankfurt |
Signatur: 2008 A 16057
Bereitstellung in Frankfurt |
Leipzig |
Signatur: 2008 A 17399
Bereitstellung in Leipzig |
