Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: dcs=53*
|
|
|
| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1187768847 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Development of in situ methods for process monitoring and control and characterization of Cu-Zn-Sn-S based thin films / Stephan van Duren |
| Person(en) | Duren, Stephan van (Verfasser) |
| Organisation(en) | Technische Universität Berlin. Universitätsbibliothek (Verlag) |
| Verlag | Berlin : Universitätsverlag der TU Berlin |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2019 |
| Umfang/Format | XIX Seiten, Seite 20-183 : Illustrationen ; 22 cm, 310 g |
| Andere Ausgabe(n) |
Erscheint auch als Online-Ausgabe: ISBN: 9783798330658 Erscheint auch als Online-Ausgabe: Duren, Stephan van: Development of in situ methods for process monitoring and control and characterization of Cu-Zn-Sn-S based thin films |
| Hochschulschrift | Dissertation, Technische Universität Berlin, 2018 |
| ISBN/Einband/Preis |
978-3-7983-3064-1 Broschur : EUR 12.00 (DE), EUR 12.40 (AT) 3-7983-3064-6 |
| EAN | 9783798330641 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Advanced ceramic materials ; volume 2 |
| Schlagwörter | Kesterit ; Halbleiterschicht ; Schichtwachstum ; Reflektometrie ; Raman-Spektroskopie ; Röntgendiffraktometrie |
| DDC-Notation | 537.6226 [DDC23ger] |
| Sachgruppe(n) | 530 Physik |
| Weiterführende Informationen | Inhaltsverzeichnis |
| Frankfurt |
Signatur: 2019 A 51318 Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.] Bereitstellung in Frankfurt |
| Leipzig |
Signatur: 2019 A 89506 Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.] Bereitstellung in Leipzig |

