Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/105009915X |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | On-Wafer calibration techniques enabling accurate characterization of high-performance silicon devices at the mm-wave range and beyond / Andrej Rumiantsev. Betreuer: Matthias Rudolph |
| Person(en) |
Rumiantsev, Andrej (Verfasser) Rudolph, Matthias (Akademischer Betreuer) |
| Verlag | Cottbus : Universitätsbibliothek der BTU Cottbus |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2014 |
| Umfang/Format | Online-Ressource |
| Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Rumiantsev, Andrej: On-Wafer calibration techniques enabling accurate characterization of high-performance silicon devices at the mm-wave range and beyond |
| Hochschulschrift | Cottbus, Brandenburgische Technische Universität Cottbus, Diss., 2014 |
| Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:kobv:co1-opus-30659 |
| URL | http://opus.kobv.de/btu/volltexte/2014/3065/ (Verlag) (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| DDC-Notation | 621.381520287 [DDC22ger]; 621.3813 [DDC22ger] |
| Sachgruppe(n) | 621.3 Elektrotechnik, Elektronik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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