Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: dcs=621.3*
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1178321479 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Lifetime-limiting defects in monocrystalline silicon |
| Person(en) |
Niewelt, Tim (Verfasser) Weber, Eicke (Akademischer Betreuer) Glunz, Stefan (Akademischer Betreuer) |
| Organisation(en) | Albert-Ludwigs-Universität Freiburg. Fakultät für Angewandte Wissenschaften (Grad-verleihende Institution) |
| Verlag | Freiburg : Universität |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2019 |
| Umfang/Format | Online-Ressource (pdf) |
| Hochschulschrift | Dissertation, Universität Freiburg, 2017 |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:bsz:25-freidok-173802 DOI: 10.6094/UNIFR/17380 |
| URL | https://freidok.uni-freiburg.de/data/17380 (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Schlagwörter | Silicium ; Einkristall ; Gitterbaufehler ; Sauerstoff ; Rekombination ; Czochralski-Verfahren ; Degradation <Technik> ; Lebensdauer ; Solarzelle ; Wafer |
| DDC-Notation | 621.381520287 [DDC23ger]; 621.31244 [DDC23ger] |
| Sachgruppe(n) | 621.3 Elektrotechnik, Elektronik ; 530 Physik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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