Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "test"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/gnd/1277881251 |
| Veranstaltung | VDAT (26. : 2022 : Jammu) |
| Andere Namen | International Symposium on VLSI Design and Test (26. : 2022 : Jammu) |
| Zeit | 17.07.2022-19.07.2022 |
| Land | Indien (XB-IN) |
| Geografischer Bezug | Veranstaltungsort: Jammu |
| Typ | Veranstaltung (vie) |

