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Titel Investigation of charge carrier depletion in freestanding nanowires by a multi-probe scanning tunneling microscope / by Andreas Nägelein, Matthias Steidl, Stefan Korte, Bert Voigtländer, Werner Prost, Peter Kleinschmidt, Thomas Hannappel
Person(en) Nägelein, Andreas (Verfasser)
Steidl, Matthias (Sonstige)
Korte, Stefan (Sonstige)
Voigtländer, Bert (Sonstige)
Prost, Werner (Sonstige)
Kleinschmidt, Peter (Sonstige)
Hannappel, Thomas (Sonstige)
Organisation(en) SpringerLink (Online service) (Sonstige)
Umfang/Format Online-Ressource : online resource.
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2018082021405575897011
DOI: 10.1007/s12274-018-2105-x
URL http://dx.doi.org/10.1007/s12274-018-2105-x
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2018
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: Nano research (11.6.2018: 1-11)
Sachgruppe(n) 530 Physik

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