Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1008531723 |
| Titel | New Horizons of Applied Scanning Electron Microscopy |
| Person(en) |
Shimizu, Kenichi (Verfasser) Mitani, Tomoaki (Verfasser) |
| Verlag | Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2010 |
| Umfang/Format | Online-Ressource |
| Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Shimizu, Kenichi: New horizons of applied scanning electron microscopy |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:1111-20101124814 DOI: 10.1007/978-3-642-03160-1 |
| URL | https://link.springer.com/book/10.1007/978-3-642-03160-1 (Verlag) |
| ISBN/Einband/Preis | 978-3-642-03160-1 |
| EAN | 9783642031601 |
| Anmerkungen | Lizenzpflichtig |
| Schlagwörter | Rasterelektronenmikroskopie ; Feldemissionsmikroskopie ; Probenvorbereitung ; Hochfrequenzsputtern |
| DDC-Notation | 502.825 [DDC22ger] |
| Sachgruppe(n) | 500 Naturwissenschaften |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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