Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1312336951 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Identification and interpretation of characteristics for grain and defect development / Theresa Trötschler |
| Person(en) | Trötschler, Theresa (Verfasser) |
| Organisation(en) |
Fraunhofer IRB-Verlag (Verlag) Fraunhofer ISE (Herausgebendes Organ) |
| Werk(e) | A computational toolbox to assess VGF-grown silicon |
| Verlag | Stuttgart : Fraunhofer Verlag |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: [2023] |
| Umfang/Format | viii, 242 Seiten : Illustrationen, Diagramme ; 21 cm |
| Hochschulschrift | Dissertation, Albert-Ludwig-University of Freiburg, 2022 |
| ISBN/Einband/Preis |
978-3-8396-1971-1 Broschur : EUR 87.00 (DE), EUR 89.50 (AT), CHF 134.00 (freier Preis) 3-8396-1971-8 |
| Bestellnummer(n) | Bestellnummer: fhg-ise_146 |
| EAN | 9783839619711 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Solar energy and systems research |
| Schlagwörter | Wafer ; Silicium ; Optische Messung ; Bildanalyse ; Mustererkennung ; Gitterbaufehler ; Korngrenze ; Maschinelles Lernen |
| DDC-Notation | 621.360285631 [DDC23ger] |
| Sachgruppe(n) | 621.3 Elektrotechnik, Elektronik ; 004 Informatik |
| Weiterführende Informationen |
Inhaltstext Inhaltsverzeichnis |
| Frankfurt |
Signatur: 2025 AA 26124
Bereitstellung in Frankfurt |
| Leipzig |
Signatur: 2024 AA 21118
Bereitstellung in Leipzig |
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