Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

Neuigkeiten Servicezeiten in Frankfurt am Main ab 1. Dezember 2025: Montag bis Freitag 9–18 Uhr und Samstag 10–16 Uhr
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Online Ressourcen
Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/1189146320
Titel High-precision scanning transmission electron microscopy at coarse pixel sampling for reduced electron dose / Andrew B. Yankovich, Benjamin Berkels, Wolfgang Dahmen, Peter Binev, Paul M. Voyles
Person(en) Yankovich, Andrew B. (Verfasser)
Berkels, Benjamin (Verfasser)
Dahmen, Wolfgang (Verfasser)
Binev, Peter (Verfasser)
Voyles, Paul M. (Verfasser)
Verlag Aachen : Universitätsbibliothek der RWTH Aachen
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2015
Umfang/Format Online-Ressource
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2019062506212527038681
DOI: 10.18154/RWTH-2015-05455
URL http://publications.rwth-aachen.de/record/538663 (Verlag) (kostenfrei zugänglich)
Sprache(n) Englisch (eng)
Anmerkungen In: Advanced Structural and Chemical Imaging, 10.1186/s40679-015-0003-9
DDC-Notation 530.411 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sachgruppe(n) 530 Physik

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