Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1189146320 |
| Titel | High-precision scanning transmission electron microscopy at coarse pixel sampling for reduced electron dose / Andrew B. Yankovich, Benjamin Berkels, Wolfgang Dahmen, Peter Binev, Paul M. Voyles |
| Person(en) |
Yankovich, Andrew B. (Verfasser) Berkels, Benjamin (Verfasser) Dahmen, Wolfgang (Verfasser) Binev, Peter (Verfasser) Voyles, Paul M. (Verfasser) |
| Verlag | Aachen : Universitätsbibliothek der RWTH Aachen |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2015 |
| Umfang/Format | Online-Ressource |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2019062506212527038681 DOI: 10.18154/RWTH-2015-05455 |
| URL | http://publications.rwth-aachen.de/record/538663 (Verlag) (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Anmerkungen | In: Advanced Structural and Chemical Imaging, 10.1186/s40679-015-0003-9 |
| DDC-Notation | 530.411 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sachgruppe(n) | 530 Physik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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