Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

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Art des Inhalts Hochschulschrift
Titel A BIST (built-in self-test) strategy for mixed-signal integrated circuits / vorgelegt von Hongzhi, Li
Person(en) Li, Hongzhi (Verfasser)
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2004
Umfang/Format X, 172 S. : graph. Darst. ; 30 cm
Andere Ausgabe(n) Erscheint auch als Online-Ausgabe: Li, Hongzhi: A BIST (built-in self-test) strategy for mixed-signal integrated circuits
Hochschulschrift Erlangen, Nürnberg, Univ., Diss., 2004
Sprache(n) Englisch (eng)
Schlagwörter Mixed-Signal-Schaltung ; Built-in self test
Mixed-Signal-Schaltung ; Analog-Digital-Umsetzer ; Digital-Analog-Umsetzer ; Testbarkeit
Sachgruppe(n) 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
Weiterführende Informationen Inhaltsverzeichnis

Frankfurt Signatur: 2005 B 3671
Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.]
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Leipzig Signatur: 2005 B 2103
Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.]
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