Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/973332050 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | A BIST (built-in self-test) strategy for mixed-signal integrated circuits / vorgelegt von Hongzhi, Li |
| Person(en) | Li, Hongzhi (Verfasser) |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2004 |
| Umfang/Format | X, 172 S. : graph. Darst. ; 30 cm |
| Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Online-Ausgabe: Li, Hongzhi: A BIST (built-in self-test) strategy for mixed-signal integrated circuits |
| Hochschulschrift | Erlangen, Nürnberg, Univ., Diss., 2004 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Schlagwörter |
Mixed-Signal-Schaltung ; Built-in self test Mixed-Signal-Schaltung ; Analog-Digital-Umsetzer ; Digital-Analog-Umsetzer ; Testbarkeit |
| Sachgruppe(n) | 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau |
| Weiterführende Informationen | Inhaltsverzeichnis |
| Frankfurt |
Signatur: 2005 B 3671 Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.] Bereitstellung in Frankfurt |
| Leipzig |
Signatur: 2005 B 2103 Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.] Bereitstellung in Leipzig |
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