Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

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Bücher
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Titel Critique de nanotechnologies / Thierno Guèye
Person(en) Guèye, Thierno (Verfasser)
Verlag New York ; Bern ; Berlin ; Vienna : Peter Lang
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: [2020]
Umfang/Format XIV, 149 Seiten : Illustrationen ; 23 cm
Andere Ausgabe(n) Erscheint auch als Online-Ausgabe: Guèye, Thierno: Critique des nanotechnologies
ISBN/Einband/Preis 978-1-4331-5288-7 Festeinband
Sprache(n) Französisch (fre)
Schlagwörter Nanotechnologie
DDC-Notation 620.5 [DDC23ger]
Sachgruppe(n) 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
Weiterführende Informationen Inhaltsverzeichnis

Frankfurt Signatur: 2020 A 19578
Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.]
Bereitstellung in Frankfurt
Leipzig Signatur: 2020 A 26260
Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.]
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