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Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/1274177499
Titel Optimizing performance and yield of vertical GaN diodes using wafer scale optical techniques / by James C. Gallagher, Mona A. Ebrish, Matthew A. Porter, Alan G. Jacobs, Brendan P. Gunning, Robert J. Kaplar, Karl D. Hobart, Travis J. Anderson
Person(en) Gallagher, James C. (Verfasser)
Ebrish, Mona A. (Verfasser)
Porter, Matthew A. (Verfasser)
Jacobs, Alan G. (Verfasser)
Gunning, Brendan P. (Verfasser)
Kaplar, Robert J. (Verfasser)
Hobart, Karl D. (Verfasser)
Anderson, Travis J. (Verfasser)
Organisation(en) SpringerLink (Online service) (Sonstige)
Umfang/Format Online-Ressource : online resource.
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2022112921200535787588
DOI: 10.1038/s41598-021-04170-2
URL https://doi.org/10.1038/s41598-021-04170-2 (Open Access)
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2022
DDC-Notation 621.38152 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: Scientific reports (Bd. 12, 13.1.2022, Nr. 1, date:12.2022: 1-8)
Sachgruppe(n) 621.3 Elektrotechnik, Elektronik

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