Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1072047721 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | [Testing of Reversible Circuits] / [Hongyan Zhang]. Gutachter: Rolf Drechsler ; Hans-Jörg Kreowski. Betreuer: Rolf Drechsler |
| Person(en) |
Zhang, Hongyan (Verfasser) Drechsler, Rolf (Akademischer Betreuer) Kreowski, Hans-Jörg (Akademischer Betreuer) |
| Verlag | Bremen : Staats- und Universitätsbibliothek Bremen |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2013 |
| Umfang/Format | Online-Ressource |
| Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Testing of reversible circuits |
| Hochschulschrift | Bremen, Universität Bremen, Diss., 2013 |
| Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:gbv:46-00103179-13 |
| URL | http://elib.suub.uni-bremen.de/edocs/00103179-1.pdf (Verlag) (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| DDC-Notation | 621.3950287 [DDC22ger] |
| Sachgruppe(n) | 621.3 Elektrotechnik, Elektronik ; 004 Informatik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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