Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1188466909 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Optimierung von Zuverlässigkeitsuntersuchungen, Prüfabläufen und Nacharbeitsprozessen in der Elektronikproduktion / Claudius Schimpf ; Gutachter: Klaus Feldmann; Wilfried Sauer ; Betreuer: Klaus Feldmann ; Herausgeber: Manfred Geiger, Klaus Feldmann |
| Person(en) |
Schimpf, Claudius (Verfasser) Feldmann, Klaus (Akademischer Betreuer) Feldmann, Klaus (Gutachter) Sauer, Wilfried (Gutachter) Geiger, Manfred (Herausgeber) Feldmann, Klaus (Herausgeber) |
| Verlag | Erlangen : Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU) |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2009 |
| Umfang/Format | Online-Ressource |
| Hochschulschrift | Dissertation, Erlangen, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU), 2009 |
| Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:bvb:29-opus4-111328 |
| URL | https://opus4.kobv.de/opus4-fau/frontdoor/index/index/docId/11132 (Verlag) (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Deutsch (ger) |
| Beziehungen | Fertigungstechnik - Erlangen ; 203 |
| Schlagwörter | Elektroniktechnologie ; Elektronische Baugruppe ; Verbindungstechnik ; Zuverlässigkeit ; Prüftechnik ; Prozessoptimierung |
| DDC-Notation | 621.381548 [DDC22ger] |
| Sachgruppe(n) | 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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