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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1335977953 |
| Art des Inhalts | Norm |
| Titel | DIN EN IEC 60749-34-1, Halbleiterbauelemente - mechanische und klimatische Prüfverfahren. Teil 34-1, Leistungszyklusprüfung für Leistungshalbleitermodule (IEC 47/2759/CD:2022) : Text Deutsch und Englisch = Semiconductor devices - mechanical and climatic test methods. Part 34-1, Power cycling test for power semiconductor module (IEC 47/2759/CD:2022) / DIN, Deutsches Institut für Normung e.V. ; DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE |
| Organisation(en) | Deutsches Institut für Normung (Herausgebendes Organ) |
| Werk(e) | DIN EN IEC 60749, 34-1 |
| Ausgabe | Entwurf |
| Verlag | Berlin : DIN Media GmbH |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: August 2024 |
| Umfang/Format | 19, 19 Seiten : Illustrationen ; 30 cm |
| ISBN/Einband/Preis | Broschur |
| Sprache(n) | Deutsch (ger), Englisch (eng) |
| Beziehungen | Deutsche Norm |
| Sachgruppe(n) | 600 Technik |
| Frankfurt |
Signatur: 2024 BB 58794
Bereitstellung in Frankfurt |
| Leipzig |
Signatur: 2025 BB 8260
Bereitstellung in Leipzig |
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