Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1387946307 |
| Titel | Identity Testing for Circuits with Exponentiation Gates / Jiatu Li, Mengdi Wu |
| Person(en) |
Li, Jiatu (Verfasser) Wu, Mengdi (Verfasser) |
| Verlag | Wadern : Schloss Dagstuhl – Leibniz-Zentrum für Informatik |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2026 |
| Umfang/Format | Online-Ressource (pdf) |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:0030-drops-253821 DOI: 10.4230/LIPIcs.ITCS.2026.95 |
| URL | https://drops.dagstuhl.de/entities/document/10.4230/LIPIcs.ITCS.2026.95 (Verlag) (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Leibniz International Proceedings in Informatics, 2026, Volume 362, 17th Innovations in Theoretical Computer Science Conference (ITCS 2026), page 95:1-95:22 |
| DDC-Notation | 511.3 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sachgruppe(n) | 510 Mathematik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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