Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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Treffer 98685 von 1021319
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1273503929 |
| Titel | In Situ TEM Observation of Electron‐Beam‐Induced Microstructural Evolution in van der Waals Layered Magnetic CrSBr Semiconductor |
| Person(en) |
Deng, Hao‐Wen (Verfasser) Tseng, Yi‐Tang (Verfasser) Lee, Mu‐Pai (Verfasser) Lin, Yen‐Fu (Verfasser) Wu, Wen‐Wei (Verfasser) |
| Umfang/Format | Online-Ressource (pdf) |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2022112314150343322620 DOI: 10.1002/aelm.202200994 |
| URL | https://doi.org/10.1002/aelm.202200994 |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 22.11.2022 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Advanced electronic materials (22.11.2022. 8 S.) |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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