Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1026099048 |
Art des Inhalts | Hochschulschrift |
Titel | Untersuchung der Degradation von elektrisch gestresstem nano-porösem ultra low-k Dielektrikum vor dem elektrischen Durchschlag / Taro Breuer |
Person(en) | Breuer, Taro (Verfasser) |
Verlag | Münster : Verl.-Haus Monsenstein und Vannerdat |
Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2012 |
Umfang/Format | 233 S. : Ill., graph. Darst. ; 22 cm, 300 g |
Hochschulschrift | Zugl.: Berlin, Techn. Univ., Diss., 2012 |
ISBN/Einband/Preis |
978-3-86991-674-3 Pp. : EUR 20.00 (DE), EUR 20.60 (AT) 3-86991-674-5 |
EAN | 9783869916743 |
Sprache(n) | Deutsch (ger) |
Beziehungen | MV-Wissenschaft |
Schlagwörter | Chip ; Miniaturisierung ; Low-k-Dielektrikum ; Nanoporöser Stoff ; Degradation <Technik> ; Werkstoffprüfung ; Leckstrom ; Elektrischer Durchschlag ; Durchschlagspannung ; Elektrische Messtechnik |
DDC-Notation | 621.381548 [DDC22ger]; 620.11623 [DDC22ger] |
Sachgruppe(n) | 621.3 Elektrotechnik, Elektronik ; 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau |
Weiterführende Informationen |
Inhaltsverzeichnis Inhaltstext |
Frankfurt |
Signatur: 2012 A 78681
Bereitstellung in Frankfurt |
Leipzig |
Signatur: 2012 A 93228
Bereitstellung in Leipzig |
