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Bücher
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Art des Inhalts Hochschulschrift
Titel Untersuchung der Degradation von elektrisch gestresstem nano-porösem ultra low-k Dielektrikum vor dem elektrischen Durchschlag / Taro Breuer
Person(en) Breuer, Taro (Verfasser)
Verlag Münster : Verl.-Haus Monsenstein und Vannerdat
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2012
Umfang/Format 233 S. : Ill., graph. Darst. ; 22 cm, 300 g
Hochschulschrift Zugl.: Berlin, Techn. Univ., Diss., 2012
ISBN/Einband/Preis 978-3-86991-674-3 Pp. : EUR 20.00 (DE), EUR 20.60 (AT)
3-86991-674-5
EAN 9783869916743
Sprache(n) Deutsch (ger)
Beziehungen MV-Wissenschaft
Schlagwörter Chip ; Miniaturisierung ; Low-k-Dielektrikum ; Nanoporöser Stoff ; Degradation <Technik> ; Werkstoffprüfung ; Leckstrom ; Elektrischer Durchschlag ; Durchschlagspannung ; Elektrische Messtechnik
DDC-Notation 621.381548 [DDC22ger]; 620.11623 [DDC22ger]
Sachgruppe(n) 621.3 Elektrotechnik, Elektronik ; 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
Weiterführende Informationen Inhaltsverzeichnis
Inhaltstext

Frankfurt Signatur: 2012 A 78681
Bereitstellung in Frankfurt
Leipzig Signatur: 2012 A 93228
Bereitstellung in Leipzig




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