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Neuigkeiten Dienstag 18. November 2025: Die Lesesäle der Deutschen Nationalbibliothek in Frankfurt am Main öffnen wegen einer Personalversammlung erst ab 13 Uhr. // Tuesday 18 November 2025: The reading rooms of the German National Library in Frankfurt am Main will open at 13:00 due to a staff assembly.
 
 

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Titel Wafer map defect pattern classification based on convolutional neural network features and error-correcting output codes / by Cheng Hao Jin, Hyun-Jin Kim, Yongjun Piao, Meijing Li, Minghao Piao
Person(en) Jin, Cheng Hao (Verfasser)
Kim, Hyun-Jin (Verfasser)
Piao, Yongjun (Verfasser)
Li, Meijing (Verfasser)
Piao, Minghao (Verfasser)
Organisation(en) SpringerLink (Online service) (Sonstige)
Umfang/Format Online-Ressource : online resource.
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2020050419292947538943
DOI: 10.1007/s10845-020-01540-x
URL https://doi.org/10.1007/s10845-020-01540-x
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2020
DDC-Notation 006.32 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: Journal of intelligent manufacturing (4.2.2020: 1-15)
Sachgruppe(n) 004 Informatik

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