Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1238233023 |
| Titel | Surface Stoichiometry and Depth Profile of Tix-CuyNz Thin Films Deposited by Magnetron Sputtering / Arun Kumar Mukhopadhyay, Avishek Roy, Gourab Bhattacharjee, Sadhan Chandra Das, Abhijit Majumdar, Harm Wulff, Rainer Hippler |
| Person(en) |
Mukhopadhyay, Arun Kumar (Verfasser) Roy, Avishek (Verfasser) Bhattacharjee, Gourab (Verfasser) Das, Sadhan Chandra (Verfasser) Majumdar, Abhijit (Verfasser) Wulff, Harm (Verfasser) Hippler, Rainer (Verfasser) |
| Verlag | Greifswald : Universität Greifswald |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2021 |
| Umfang/Format | Online-Ressource (pdf) |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:gbv:9-opus-46920 DOI: 10.3390/ma14123191 |
| URL | https://epub.ub.uni-greifswald.de/frontdoor/index/index/docId/4692 (Verlag) (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Anmerkungen | In: Materials, 14.2021, 12 |
| Schlagwörter | - |
| DDC-Notation | 530.4175 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sachgruppe(n) | 530 Physik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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