Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1223371778 |
| Titel | Automatic etch pit density analysis in multicrystalline silicon / Martin Fleck, Giso Hahn |
| Person(en) |
Fleck, Martin (Verfasser) Hahn, Giso (Verfasser) |
| Verlag | Konstanz : KOPS Universität Konstanz |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2020 |
| Umfang/Format | Online-Ressource (pdf) |
| Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:bsz:352-2-ujah3zno95nq8 |
| URL | https://kops.uni-konstanz.de/handle/123456789/50334 (Verlag) (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Anmerkungen | In: Computational Materials Science ; 183 (2020). - 109886. - Elsevier. - ISSN 0927-0256. - eISSN 1879-0801 |
| DDC-Notation | 537.622 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sachgruppe(n) | 530 Physik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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