Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

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Neuigkeiten Die Lesesäle für Geisteswissenschaften, Naturwissenschaften, der Alte Lesesaal Technik und der Anne-Frank-Shoah-Lesesaal in Leipzig schließen am 04.02.2026 wegen einer Veranstaltung bereits um 15 Uhr. Die weiteren Lesesäle sowie die Servicetheke sind zu den regulären Zeiten geöffnet. //
The humanities reading room, the natural science reading room, the old technology reading room and the reading room of the Anne-Frank-Shoah-Library will close at 15:00 on 4 February 2026 due to an event. The other reading rooms and the service desk will be open during regular hours.
 
 

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Titel Introducing Covering Problems for the Electronic Wafer Test / by Dominic Deckert, Dirk Reichelt, Peter Holland-Moritz
Person(en) Deckert, Dominic (Verfasser)
Reichelt, Dirk (Verfasser)
Holland-Moritz, Peter (Verfasser)
Organisation(en) SpringerLink (Online service) (Sonstige)
Umfang/Format 1 Online-Ressource.
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2510032112187.049814307506
DOI: 10.1007/s43069-025-00504-2
URL https://doi.org/10.1007/s43069-025-00504-2
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2025
DDC-Notation 519.6 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: Operations research forum (Bd. 6, 2.8.2025, Nr. 3, date:9.2025: 1-20)
Sachgruppe(n) 510 Mathematik

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