Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1229835601 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Entwicklung eines Raster-Sonden-Mikroskops (SPM) für die Analyse oberflächenadsorbierter und selbstassemblierter Nanostrukturen / Stephan Kloft ; Betreuer: Markus Lackinger |
| Person(en) |
Kloft, Stephan (Verfasser) Lackinger, Markus (Akademischer Betreuer) |
| Verlag | München : Universitätsbibliothek der Ludwig-Maximilians-Universität |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2020 |
| Umfang/Format | Online-Ressource (pdf) |
| Hochschulschrift | Dissertation, München, Ludwig-Maximilians-Universität, 2020 |
| Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:bvb:19-275611 |
| URL | https://edoc.ub.uni-muenchen.de/27561/ (Verlag) (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Deutsch (ger) |
| Schlagwörter | Nanostruktur* ; Rastersondenmikroskop* ; Mikroskop* ; Ultrahochvakuum* (*maschinell ermittelt) |
| DDC-Notation | 530.417 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sachgruppe(n) | 530 Physik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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