Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/134458862X |
| Titel | Development and application of reference and routine analytical methods providing SI-traceable results for the determination of technology-critical elements in PCB from WEEE / Giancarlo D'Agostino, Marcus Oelze, Jochen Vogl, Jean-Philippe Ghestem, Nicolas Lafaurie, Ole Klein, Daniel Pröfrock, Marco Di Luzio, Luigi Bergamaschi, Radojko Jaćimović, Caroline Oster, Johanna Irrgeher, Shaun T. Lancaster, Anna Walch, Anita Röthke, Lena Michaliszyn, Axel Pramann, Olaf Rienitz, Timo Sara-Aho, Oktay Cankur, Derya Kutan, Johanna Noireaux |
| Person(en) |
D'Agostino, Giancarlo (Verfasser) Oelze, Marcus (Verfasser) Vogl, Jochen (Verfasser) Ghestem, Jean-Philippe (Verfasser) Lafaurie, Nicolas (Verfasser) Klein, Ole (Verfasser) Pröfrock, Daniel (Verfasser) Di Luzio, Marco (Verfasser) Bergamaschi, Luigi (Verfasser) Jaćimović, Radojko (Verfasser) Oster, Caroline (Verfasser) Irrgeher, Johanna (Verfasser) Lancaster, Shaun T. (Verfasser) Walch, Anna (Verfasser) Röthke, Anita (Verfasser) Michaliszyn, Lena (Verfasser) Pramann, Axel (Verfasser) Rienitz, Olaf (Verfasser) Sara-Aho, Timo (Verfasser) Cankur, Oktay (Verfasser) Kutan, Derya (Verfasser) Noireaux, Johanna (Verfasser) |
| Verlag | Berlin : Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM) |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2024 |
| Umfang/Format | Online-Ressource (pdf) |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:kobv:b43-612416 DOI: 10.1039/d4ja00235k |
| URL | (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Anmerkungen | In: Journal of Analytical Atomic Spectrometry, S. 1-15 |
| DDC-Notation | 572.36 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sachgruppe(n) | 570 Biowissenschaften, Biologie |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |

