Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1019355328 |
Art des Inhalts | Hochschulschrift |
Titel | Optimization and characterization of GaN-based high electron mobility transistors / Haifeng Sun |
Person(en) | Sun, Haifeng (Verfasser) |
Verlag | Aachen : Shaker |
Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2012 |
Umfang/Format | VIII, 153 S. : Ill., graph. Darst. ; 21 cm, 248 g |
Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Online-Ausgabe: Sun, Haifeng: Optimization and Characterization of GaN-Based High Electron Mobility Transistors |
Hochschulschrift | Zugl.: Zürich, Eidgenöss. Techn. Hochsch., Diss., 2011 |
ISBN/Einband/Preis | 978-3-8440-0683-4 kart. : EUR 48.80 (DE), EUR 48.80 (AT), sfr 97.60 (freier Pr.) |
EAN | 9783844006834 |
Sprache(n) | Englisch (eng) |
Beziehungen | Berichte aus der Elektrotechnik |
Schlagwörter |
HEMT ; Galliumnitrid ; Millimeterwelle ; Passivierung ; Trockenätzen ; Ionenimplantation HEMT ; Galliumnitrid ; Aluminiumnitrid ; Halbleitersubstrat ; Silicium ; Millimeterwelle |
DDC-Notation | 621.3815284 [DDC22ger] |
Sachgruppe(n) | 621.3 Elektrotechnik, Elektronik |
Weiterführende Informationen | Inhaltsverzeichnis |
Frankfurt |
Signatur: 2012 A 15763 Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.] Bereitstellung in Frankfurt |
Leipzig |
Signatur: 2012 A 16372 Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.] Bereitstellung in Leipzig |
