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Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/1227063512
Art des Inhalts Hochschulschrift
Titel Structure and growth characterization of biaxially textured PCM thin films and heterostructures / Marc Pohlmann ; Matthias Wuttig, Joachim Mayer
Person(en) Pohlmann, Marc (Verfasser)
Wuttig, Matthias (Akademischer Betreuer)
Mayer, Joachim (Akademischer Betreuer)
Verlag Aachen : Universitätsbibliothek der RWTH Aachen
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2020
Umfang/Format Online-Ressource (pdf)
Hochschulschrift Dissertation, RWTH Aachen University, 2020
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2021021208475464135850
DOI: 10.18154/RWTH-2020-11075
URL https://publications.rwth-aachen.de/record/807048 (Verlag) (kostenfrei zugänglich)
Sprache(n) Englisch (eng)
Schlagwörter Heterostructures* ; Thin films* (*maschinell ermittelt)
DDC-Notation 530.4175 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sachgruppe(n) 530 Physik

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